ADC100C昨天写了,有个读者下面和我叨叨这个构架的问题,实际上:ADC100C 是改进型双积分结构(Dual-Slope with Calibration Loop)。

1. 积分放大器 + 电流源结构

在手册的电路框图中(如下图所示):

再说一次

包含:

Auto Zero Switch(自动调零)

Differential Voltage Controlled Current Source(电压控制电流源)

Bidirectional Reference Current Source(双向参考电流源)

Timing Control & Counter(计数定时器)

这些典型模块正是 双积分型 ADC(dual-slope ADC) 的关键组成部分:

在积分阶段由输入控制电流源充电积分电容,在反积分阶段切换参考电流放电到0,计数时间。

2. Schmitt触发器 + 比较器

使用积分器后接施密特触发器,用于检测积分输出回零时刻;输出的时间间隔(T2)由“微处理器 + 计数器”解码成数字值;这也是双积分结构的典型特征(积分→回零→计时)。

3. Auto-Zero 自动调零功能

提高低漂移、高精度;自动清除输入失调误差(offset error)。

后来老哥说,卖家没有发货,emmmmmm,然后买了ADI古老的模块:AD1175K!!!我他妈只能说,遥遥领先啊!

很古早的杂志,我只能说ADI太有历史底蕴了
1987的历史原理框图
这个是数据手册里面的

真的,没法比,1987年发了杂志,实际上模块出现的比这个日期更少。

早已退产
这是以前的联系方式,真的穿越时空的感觉

我搜索了1987的中国:

是这个样子
1987年老美就记得股市尿了

好,开始技术吧,太遥远了。

素材

这份文档是 Analog Devices 的 AD1175 模块产品说明书,介绍了一个高精度 22 位积分型模数转换器(ADC)。这是一款适用于高精度测量系统的集成模块,尽管它已经被标注为 OBSOLETE(停产)

项目
参数
分辨率
22 位
动态范围
133 dB
积分非线性(INL)
±0.5 ppm
差分非线性(DNL)
±0.5 LSB
总噪声(95%置信)
5 μVpp
零点温漂
±0.5 μV/°C
增益温漂
±1 ppm/°C
输入范围
±5 V(标称) ±5.5 V(最大)
采样率
20 次/秒(60Hz 抑制) 16 次/秒(50Hz 抑制)
输入类型
真正差分,高阻抗,高 CMRR(共模抑制比)
总输入阻抗
≥100 MΩ
输入偏置电流
典型 10 nA,最大 40 nA

其实还有一个文章写24bitADC的相关参数的,我就先不发了,下面简单的探索一下性能:

如图

从上图我们可以直观地看到:要实现一个 22位(分辨率) 的 ADC,对应的理想动态范围为约 134.2 dB,但由于存在噪声、电路非理想性等限制,其实际动态范围通常要小一些。

指标
说明
分辨率
22 位
满量程被划分为  个等级
理想动态范围
≈134.2 dB
由公式  推导
噪声主导下的 SNR
≈126.0 dB
假设满量程 10V、噪声为 5 µVpp,得到 
标称动态范围
133 dB
实际指标,通常为 ENOB 附近测得值

每位(LSB)对应电压

表示 5 µV 的噪声已经接近 2 LSB,会影响最末两位的有效性。

INL ±0.5 ppm 的含义: 相对于满量程 ,±0.5 ppm 表示最大偏差为:

与噪声幅度相当,说明其误差校准非常精细。

模拟ADC误差:INL + DNL + 噪声

展示了一个 22-bit 高分辨率 ADC 在考虑了三种典型误差因素后的整体误差曲线:

模拟维度
参数说明
满量程
±5V,总计 10V
分辨率
22 位,LSB ≈ 2.38 µV
噪声
±2.5 µV(5 µVpp)均匀分布噪声
INL
±0.5 ppm(≈5 µV),以 sin 波模拟非线性失真
DNL
±0.5 LSB 抖动(≈ ±1.2 µV)
  1. 误差分布总体呈周期性变化来自 INL 的正弦型非线性趋势(低频失真);superimposed 上随机噪声(高频抖动)。

  2. 误差最大值超过 ±5 µV因为 INL + DNL + 噪声 是组合影响;多处误差接近 2 LSB;对最末 1~2 bit 采样结果稳定性影响大。误差中包含确定性 INL 模式,可通过拟合校准;随机噪声部分仅能通过平均/滤波或硬件改进降低。

分析

用于识别不同误差源在频域中的表现:

1. 低频特征(左红虚线 ~1Hz 左右):

积分非线性(INL);正弦波形的 INL 会在频域中表现为低频单峰;对应采样稳定性慢慢变化的趋势误差。

2. 高频部分(右绿虚线 ~100Hz 起):

量化噪声 + 随机噪声 + DNL 抖动;分布均匀,类似白噪声;会导致测量值随机抖动,难以通过简单平均去除。

架构原理(Architecture Overview)

AD1175 基于多斜率积分(multislope integrating ADC)原理,也属于改进型双积分 ADC。

核心工作过程:

  1. 积分阶段:将输入信号积分一个完整电网周期(比如 1/60s 或 1/50s),有效抑制电源纹波干扰。

  2. 反积分阶段:用已知参考电压(Vref)反向积分,测量积分回零所需时间 TREF

  3. 核心公式

  4. 每个转换包括 10 次积分 + 1 次精细参考积分(vernier),最终输出 22 位结果。

Vernier 积分过程的仿真图

模拟了一个 10 μV 微小差值信号在积分-回零过程中的精度放大机制。

蓝线(正向积分)

以电流  积分输入电压直到达 2.5V;所需时间为 

橙线(反向积分)

以电流  从 2.5V 反向积分至 0V;因电流略小,时间更长 ,体现“游标效应”。

灰/红虚线:显示关键时间点:主积分完成与反向积分结束;其时间差  与输入电压成正比,是精度放大的依据。

数据接口(Bus Interface)

真的,真就回到了51的年代,这8位三态

我就知道 真的没有太多的选择

8位三态双向数据总线(D0~D7)

控制信号:CS, RD, WR, A0, A1

输出数据为 3 个字节(24 位):

数据格式:偏移二进制(offset binary)

image-20250705084025842

0 V 输入 → 0x400000

±满量程(±FS) → 0x600000 / 0x200000

过载 → 0xFFFFFF,并标志位溢出

状态寄存器(Status Byte)

每个转换后可读取状态字节,含以下标志位:

Bit
含义
0
BUSY(忙)
1
CONVERTING(正在转换)
2
DATA AVAILABLE(数据准备好)
3
MODIFIED(使用了修改后的增益/偏置)
4
VALUE CHANGED(参数已更新)
5
OVERLOAD(输入过载或参数过限)
6
ERROR(命令非法、范围错误)
7
WARMUP(上电3秒自检)

支持的命令(Command Byte)

命令通过地址 00 写入,部分命令需要先写入“参数”到地址 01。常用命令如下:

命令名
HEX
描述
DEFCON
00
使用默认增益/偏置执行转换
MODCON
01
使用当前设置的增益/偏置执行转换
NEWOS
02
获取系统偏置(当前值设为偏置)
INCROS
03
偏置+N(最多 +75 mV)
DECROS
04
偏置−N(最多 −75 mV)
INCGAN
05
增益+N×0.01%(最大 5.6V FS)
DECGAN
06
增益−N×0.01%(最小 4.7V FS)
UPDATE
07
将当前偏置/增益保存为上电默认值(需参数165)

校准与调节(Calibration & Adjustment)

有 2 个可调电位器:

GAIN ADJ:精细增益调节(±0.006%)

BAL ADJ:正负满量程匹配(±1 ppm)

校准流程包括使用 MODCON/NEWOS/INCROS 等命令自动调节偏置与增益

电源与参考电压

工作电压:±15V(模拟),+5V(数字)

内部参考电压:

REF OUT:未缓冲,6.95V(±2%)

USER REF OUT:缓冲输出,可供激励使用(最大 2mA 负载)

你好!来自1987年的ADI积分ADC模组-AD1175K(研究到自己都懵逼版)

注意:输入偏置电流 × 源阻抗可能产生 LSB 级别偏移

AD1175 是一款在早期精密测量领域广泛使用的积分型 ADC 模块,有如下亮点:

超高分辨率(22bit),等效 0.24 μV LSB;优异的温漂与线性指标(ppm 级);接口简单,可通过微控制器直接控制;内部集成参考源、时钟、电容,减少外部器件。

缺点也很明显:转换速度较慢(仅 20 SPS)

模拟的转换过程

展示了 AD1175 所采用的 多斜率积分(multi-slope integration) 模拟过程,其中加入了:

白噪声(10μV RMS)

工频干扰信号(60Hz、100μV 幅度)

仿真说明

总积分时间为 1/60秒 ≈ 16.67ms,分为 10段等长积分,模拟参考电压交错反向积分(略化处理);最后进行一次 精细 vernier 校准积分(6ms),提高精度。

红色竖线表示正常积分段结束,绿色线表示 vernier 校准开始。

分析结论:

1. 多斜率积分机制优点

多次积分可以在不牺牲速度的前提下提高分辨率;工频干扰会因完整周期积分而被抵消(如图中缓慢波动的积分曲线);Vernier 积分进一步细化测量残差,提高 亚微伏级别精度

2. 噪声传播效果

噪声由于积分器低通特性被明显抑制(积分后的曲线平滑);工频干扰由于周期匹配,也被良好抵消(前提是同步积分时间准确)。

数据手册里面出现了一些公式

1. 积分器输入电荷守恒公式:

2. 积分器电荷定义:

3. 核心积分-反积分关系:

(若为常量)

4. 求平均输入信号电压:

5. 转换关系式(理想 ADC 输出):

反积分时间  与输入电压  的关系

理想曲线(蓝色):符合线性关系 

噪声曲线(橙色虚线):模拟了加入 ±10μV 噪声后的偏移,可以看到高输入电压时抖动更大,因导数变大

利用  恢复输入电压的结果

蓝线:真实输入电压

橙线:从带噪  恢复的估算电压

可以看到噪声会传导到最终电压估计,尤其在靠近满量程区间时偏移更明显(斜率较陡)

分析

  1. 积分时间 Tsig 越长 → 噪声影响越小(噪声被积分平均)

  2. Vsig 越大时,Tref 也大,造成误差拉大(积分器动态范围限制)

  3. ADC 的分辨率本质上取决于能否精准测量 Tref

    即积分电容稳定性、参考电压、时间测量精度等是关键

  4. 噪声传播路径:Vsig → ∫Vsig dt → Tref → 反推 Vsig

    因此需要在 Tref 测量与反推中有高线性 & 高定时精度

进一步仿真:

22位量化 ADC 对恢复电压的影响

蓝线: 根据带噪  恢复出的连续电压;

橙线: 模拟 ADC 的 22 位量化输出;

可见,在接近 1 LSB 范围内,ADC 量化使得恢复结果呈现“台阶状”,但整体仍非常接近实际值;LSB ≈ 2.6 μV,即使有噪声,22 位 ADC 仍能很好地保留精度(前提是系统噪声控制得当)。

积分时间对噪声抑制能力的影响

横轴:积分时间从 1ms 到 100ms;

纵轴:因白噪声(10μV RMS)造成的 RMS 电压误差;

趋势明显:积分时间越长,噪声抑制越好(误差下降);例如:从 1ms 到 100ms,误差从 ≈10μV 降至 ≈1μV;这也正是积分型 ADC 能实现亚微伏分辨率的根本原因。

  1. 量化误差 < 输入噪声时,可视为系统不是“ADC 限制”,而是“噪声限制”
  2. 适度增加积分时间是降低测量不确定性的重要手段
  3. 22-bit ADC 能在积分+低噪声参考源前提下,精确分辨微小电压变化
积分器输出信号的频谱(FFT)

我模拟的输入为:

白噪声

经过积分后,得到积分器输出并对其进行了 FFT 变换。

  1. 60Hz 峰值明显:来自于电源干扰;因为积分器对低频敏感,该干扰在输出中放大了。
  2. DC 成分(0Hz)极强:由于输入有 1V 的恒定偏置电压,积分后形成持续上升趋势(DC 积分为斜率)。
  3. 白噪声谱:在全频域分布均匀;被积分后转换为 1/f 类型的低频增强(积分器为低通特性);在低频(<100Hz)处噪声最强。

积分器对低频干扰非常敏感,尤其是 50/60Hz 工频,必须:设置积分时间为 1/50 或 1/60 秒,以实现“周期整除”干扰抵消;积分器是典型的低通系统,对高频噪声具有抑制作用。

里面有一个线性传输函数的图,这么好看,怎么能就这样埋没?

很古早

这张图是 AD1175 数据手册中的 图9:典型线性传输函数(Typical Linearity Transfer Function),展示了该 ADC 在整个输入电压范围内的线性误差行为。

横轴(Input Voltage):输入电压,相对于满量程(FS,Full Scale)归一化:

范围从 0V 到 +1.3FS(即超过满量程 30%)

±FS 是额定测量范围;

1.1FS 是器件的典型额外可工作区;

1.3FS 是明显超载区(Overload);

纵轴(Linearity Error):线性误差(单位为 ppm FS,即每百万满量程):指积分非线性误差(INL):输入与理想直线的偏离;数值在 ±2 ppm 之间波动(非常小!)

这条曲线展示了典型输入线性误差随输入电压的变化趋势:在 0V、±FS(正负满量程)处误差接近 0;在 1/2FS 附近达到最大线性误差(约 +1 ppm);超过 FS 之后误差迅速下滑,至 1.3FS 处约为 −2 ppm;这说明该 ADC 在满量程内极为线性,超过量程之后误差迅速恶化。

区域标记说明:

10% Over-range(浅色斜线区域):表示该 ADC 的“可测量扩展范围”;虽然标称满量程是 ±FS,但在 ±1.1FS 内仍保证较好精度。

Overload 区域(深色交叉区域):输入电压超出 ±1.3FS 时,触发过载;

在这种情况下:STATUS 字节的 Bit 5 被置位(OVERLOAD 标志)输出数据最高位 Bit 23 被置 1,用于指示无效数据(FF FF FF

工作范围应尽量控制在 ±FS 或 ±1.1FS 以内,避免进入失真区;即使短时间超出 ±FS,系统也不会立即崩溃,但要处理好 STATUS 位判断;此曲线也体现了该积分型 ADC 的优异线性表现(优于 ±2ppm);线性误差中心对称,说明其结构设计是非常平衡的。

我给它重新绘制一下,重回颜值巅峰

依据 AD1175 数据手册中 Figure 9 所绘制的线性误差特性模拟图

横轴: 输入电压(归一化为满量程 FS,即 1.0 = 满量程)

纵轴: 积分非线性误差(单位:ppm 满量程)

曲线在 0.5 FS 处达最大误差,约 +2 ppm;在 ±FS(1.0) 附近误差回归至 0;在 1.3 FS 时跌至约 −2 ppm;与数据手册原图形一致,呈典型二次误差趋势。

差分测量误差

如上图所示,我们模拟了在存在典型线性误差(来自图9)条件下,两个相差固定 ΔV = 0.01 FS 的输入电压对之间的差分测量误差。

横轴: 第一组输入电压 ,范围为 −1.0 FS 到 +1.0 FS;

纵轴: 差值误差,单位为 ppm 满量程;

  1. 差分误差并非恒定值,会在 ±2 ppm 范围内微小波动;
  2. 当两个输入点分别位于误差曲线的非线性区域时(例如靠近 0.5FS 或边缘处),误差会放大;
  3. 整体误差带宽 ≈ ±2 ppm(与单点误差一致);
  4. 中点区域的差分误差最小,因线性误差曲率在附近变化最缓;
  5. 可见这类误差对小信号差分测量(如桥式传感器输出)会引入细微但可测的系统偏差。

传感器差分输入或斜率拟合应用中,应考虑这种非理想线性误差;对于高分辨率系统(22~24 bit ADC),ppm 级误差已不可忽视,应通过校准或误差补偿方式修正。

爽了,这就几十年前的产物,而我至今未完全参悟,惭愧,惭愧。

https://www./cn/resources/analog-dialogue/articles/22-bit-modular-integrating-adc.html